西班牙Das-Nano公司成立于2012年，是家注研發高安全別打印設備、太赫茲無損檢測設備以及個人身份安全驗證設備的高科技公司。近日，該公司重磅推出了可以實現大面積（8英寸wafer）石墨烯和其他二維材料的全區域無損非接觸快速電學測量系統-ONYX。

石墨烯/二維材料電學性質非接觸快速測量系統-ONYX 設備圖

    ONYX采用體化的反射式太赫茲時域光譜技術（THz-TDS）彌補了傳統接觸測量方法（如四探針法- Four-probe Method，范德堡法-Van Der Pauw和電阻層析成像法-Electrical Resistance Tomography）及顯微方法（原子力顯微鏡-AFM, 共聚焦拉曼-Raman，掃描電子顯微鏡-SEM以及透射電子顯微鏡-TEM）之間的不足和空白。ONYX可以快速測量從0.5 mm²到~m²的石墨烯及其他二維材料的電學性，為科研和工業化提供了種顛覆性的檢測手段。與其他大面積測試方法（例如四探針方法）相比，ONYX能夠測量樣品質量的空間分布信息，并且屬于無損測試，在實驗過程中不會對樣品產生任何損傷。與傳統顯微方法相比，對大面積的樣品可以以微米的空間分辨率快速表征，能夠大的節約測量時間，提高效率^[1,2]。

ONYX參數及點

ONYX主要功能

ONYX應用方向

石墨烯	光伏薄膜材料	半導體薄膜	電子器件
PEDOT	鎢納米線	GaN顆粒	Ag 納米線

    目前，ONYX在研究機構和工業化域已經安裝多套設備，包括：丹麥技術大學（DTU），牛津儀器，德國BOSH公司，LG化學，3M公司，西班牙Graphenea公司等。Quantum Design中國子公司也于2020年正式將該產品引進中國，為中國客戶提供高效的技術支持和解決方案，歡迎廣大科研工作者垂詢。

參考文獻

[1] Cultrera, A., Serazio, D., Zurutuza, A. et al. Mapping the conductivity of graphene with Electrical Resistance Tomography. Sci Rep 9, 10655 (2019).

[2] Melios, C., Huang, N., Callegaro, L. et al. Towards standardisation of contact and contactless electrical measurements of CVD graphene at the macro-, micro- and nano-scale. Sci Rep 10, 3223 (2020).