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聚焦科技:QD中國引進石墨烯/二維材料電學性質非接觸快速測量全新技術

更新時間:2019-04-10點擊次數:1020

    西班牙Das-Nano公司成立于2012年,是家注研發高安全別打印設備、太赫茲無損檢測設備以及個人身份安全驗證設備的高科技公司。近日,該公司重磅推出了可以實現大面積(8英寸wafer)石墨烯和其他二維材料的全區域無損非接觸快速電學測量系統-ONYX。

石墨烯/二維材料電學性質非接觸快速測量系統-ONYX 設備圖

 

    ONYX采用體化的反射式太赫茲時域光譜技術(THz-TDS)彌補了傳統接觸測量方法(如四探針法- Four-probe Method,范德堡法-Van Der Pauw和電阻層析成像法-Electrical Resistance Tomography)及顯微方法(原子力顯微鏡-AFM, 共聚焦拉曼-Raman,掃描電子顯微鏡-SEM以及透射電子顯微鏡-TEM)之間的不足和空白。ONYX可以快速測量從0.5 mm2到~m2的石墨烯及其他二維材料的電學性,為科研和工業化提供了種顛覆性的檢測手段。與其他大面積測試方法(例如四探針方法)相比,ONYX能夠測量樣品質量的空間分布信息,并且屬于無損測試,在實驗過程中不會對樣品產生任何損傷。與傳統顯微方法相比,對大面積的樣品可以以微米的空間分辨率快速表征,能夠大的節約測量時間,提高效率[1,2]

 

ONYX參數及點

樣品大小: 10x10mm-200x200mm 

超快測量速度:12cm2/min

樣品全覆蓋測量

無需樣品制備

可定制樣品測量面積(m2量)

zui高分辨率:50μm

非接觸快速測量

無損快速測量

ONYX主要功能

→  直流電導率(σDC)

→  載流子遷移率, μdrift

→  直流電阻率, RDC

→  載流子濃度, Ns

→  載流子散射時間,τsc

→  表面均勻性

ONYX應用方向

石墨烯光伏薄膜材料半導體薄膜電子器件
PEDOT鎢納米線GaN顆粒Ag 納米線

 

    目前,ONYX在研究機構和工業化域已經安裝多套設備,包括:丹麥技術大學(DTU),牛津儀器,德國BOSH公司,LG化學,3M公司,西班牙Graphenea公司等。Quantum Design中國子公司也于2020年正式將該產品引進中國,為中國客戶提供高效的技術支持和解決方案,歡迎廣大科研工作者垂詢。

 

參考文獻

[1] Cultrera, A., Serazio, D., Zurutuza, A. et al. Mapping the conductivity of graphene with Electrical Resistance Tomography. Sci Rep 9, 10655 (2019).

[2] Melios, C., Huang, N., Callegaro, L. et al. Towards standardisation of contact and contactless electrical measurements of CVD graphene at the macro-, micro- and nano-scale. Sci Rep 10, 3223 (2020).

 

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