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當前位置:首頁產品中心表面成像分析顯微鏡Redux / nGauge便攜式芯片原子力顯微鏡

便攜式芯片原子力顯微鏡

產品簡介

加拿大ICSPI公司設計和生產的便攜式nGauge原子力顯微鏡(AFM),基于其·有的芯片式自感應探針技術,擺脫了傳統AFM對激光的依賴,帶給了傳統AFM變化! nGauge便攜式芯片原子力顯微鏡(AFM)具有小巧靈活、方便攜帶,操作簡單,掃描速度快,可掃描大尺寸樣品,無需維護、無需減震、超穩定等點,適合各類納米表征應用場景。

產品型號:Redux / nGauge
更新時間:2023-07-19
廠商性質:生產廠家
訪問量:2349
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便攜式原子力顯微鏡

——AFM納米形貌表征從未如此簡單!


ICSPI公司在便攜式nGauge原子力顯微鏡(AFM)的基礎上進行了全新升級,推出了新一代的便攜式原子力顯微鏡Redux。Redux原子力顯微鏡(AFM)除了具有方便攜帶,操作簡單,掃描速度快,可掃描大尺寸樣品,無需維護等優點,還可以迅速找到感興趣的測量位置,實現相關區域的快速高精度測量。適合各類納米表征應用場景,從科學研究、高等教育到工業用戶的樣品3D表面形貌快速成像分析等,革命性的創新技術的降低了傳統AFM的復雜操作,也的拓寬了傳統AFM的應用范圍! 

便攜式芯片原子力顯微鏡


適合各類納米表征應用場景

半導體工業

材料工業

納米技術

生命科技

涂料,聚合物和復合材料等

高等教育

......

產品特點

更小巧,更便攜

AFM微納機電芯片,使得Redux/nGauge原子力顯微鏡(AFM)系統僅有公文包大小,可隨身攜帶。

更簡單,更易用

只需點擊鼠標三次即可獲得樣品表面納米級形貌信息,無需配置減震平臺。

第一步:通過內置光學顯微鏡尋找掃描區域;

第二步:Redux/nGauge幫助掃描探針自動尋找樣品表面;

第三步:點擊掃描,獲取樣品表面形貌信息。

維護簡單,性價比高

類金剛石針尖保證AFM探針超長壽命,且無需繁瑣的更換針尖操作和其他后期維護工作。

便攜式芯片原子力顯微鏡

Redux采用的壓電AFM探針技術以及耐用的探針針尖(左圖)。中圖為一根探針第215次掃描樣品的結果,右圖為第1164次掃描樣品的結果


設備參數:

Redux AFM

便攜式芯片原子力顯微鏡

左:Redux原子力顯微鏡(AFM);右:Redux原子力顯微鏡實際使用場景


Redux微型原子力顯微鏡n5(噪聲基底優于0.5nm

Redux微型原子力顯微鏡n7(噪聲基底優于0.15nm


產品特點

快速:1分鐘內便可獲取樣品信息

易用:掃描只需點擊三次鼠標

簡單:全新升級的X, Y和Z定位系統


技術參數

AFM技術參數
最大掃描范圍(XY)20 μm x 20 μm
最大掃描高度(Z)10 μm
掃描速度80 (256 x 256 pixel, 20 μm x 20 μm)
噪音基底<0.5nm <0.15 nm
XY掃描分辨率<0.5 nm
樣品臺參數
樣品臺尺寸105 mm x 95 mm x 20 mm
可移動范圍10 mm x 10 mm
光學顯微鏡參數
物鏡10x, 0.25 NA
視場2.25 mm × 1.25 mm
分辨率1920 x 1080 FHD Video output
整體尺寸
尺寸 (x x )23.2 cm × 22.0 cm × 24.6 cm
重量4 kg
軟件需求
連接方式USB
操作系統Windows 10, 11
電源
電壓100-240 VAC ~ 50/60 Hz
電流12 VDC, 5 A


nGauge AFM

便攜式芯片原子力顯微鏡

成像類型:形貌圖,相位圖

XY 掃描區域:100 µm × 100 µm


XY 掃描分辨率:<0.5 nm

Z向掃描范圍:10 µm


快速掃描成像時間:16 秒



可表征樣品大尺寸:100 mm x 50 mm x 20 mm

可表征樣品大重量:1 kg




各表征手段對比



Redux/nGauge AFM

傳統 AFM

SEM

大氣環境下運行

便攜式芯片原子力顯微鏡

便攜式芯片原子力顯微鏡

便攜式芯片原子力顯微鏡

自動尋找樣品表面

便攜式芯片原子力顯微鏡

便攜式芯片原子力顯微鏡

N/A

設備安裝時間

5 分鐘

1-2 周

1-2 周

掃描樣品時間

2 分鐘

1 小時

30 分鐘 – 1 小時

隨測隨走

便攜式芯片原子力顯微鏡

便攜式芯片原子力顯微鏡

便攜式芯片原子力顯微鏡

培訓時間

1 小時

12+ 小時

12+ 小時

無需激光對準

便攜式芯片原子力顯微鏡

便攜式芯片原子力顯微鏡

便攜式芯片原子力顯微鏡

普通市電/USB供電

便攜式芯片原子力顯微鏡

便攜式芯片原子力顯微鏡

便攜式芯片原子力顯微鏡

更換探針難度

便攜式芯片原子力顯微鏡

便攜式芯片原子力顯微鏡

N/A

3D表面形貌成像

便攜式芯片原子力顯微鏡

便攜式芯片原子力顯微鏡

便攜式芯片原子力顯微鏡

成像分辨率

便攜式芯片原子力顯微鏡

便攜式芯片原子力顯微鏡

便攜式芯片原子力顯微鏡

不導電樣品表征

便攜式芯片原子力顯微鏡

便攜式芯片原子力顯微鏡

便攜式芯片原子力顯微鏡




測試數據

微柱陣列三維成像


便攜式芯片原子力顯微鏡


二氧化硅聚合物復合材料相掃描結果

便攜式芯片原子力顯微鏡

半間距為200nm的光柵形貌表征

便攜式芯片原子力顯微鏡

數據存儲單元納米結構三維形貌表征

便攜式芯片原子力顯微鏡



丹麥Akasel公司檢測鋼鐵拋光樣品表面

便攜式芯片原子力顯微鏡

                                              

美國Biotech公司表征皮膚樣本

便攜式芯片原子力顯微鏡


美國Applied Nanotool公司微納光學器件品控

便攜式芯片原子力顯微鏡

光電子域器件檢測

便攜式芯片原子力顯微鏡


發表文章

1. Zhao, P., et al., Multiple antibiotics distribution in drinking water and their co-adsorption behaviors by different size fractions of natural particles. Science of The Total Environment, 2021. 775: p. 145846.

2. Guo, P., et al., Vanadium dioxide phase change thin films produced by thermal oxidation of metallic vanadium. Thin Solid Films, 2020. 707: p. 138117.

3. Connolly, L.G., et al., A tip-based metrology framework for real-time process feedback of roll-to-roll fabricated nanopatterned structures. Precision Engineering, 2019. 57: p. 137-148.

4. O'Neill, C., et al., Effect of tooth brushing on gloss retention and surface roughness of five bulk‐fill resin composites. Journal of Esthetic and Restorative Dentistry, 2018. 30(1): p. 59-69.


用戶單位

nGauge全球代表性用戶


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便攜式芯片原子力顯微鏡

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