便攜式原子力顯微鏡
——AFM納米形貌表征從未如此簡單!
ICSPI公司在便攜式nGauge原子力顯微鏡(AFM)的基礎上進行了全新升級,推出了新一代的便攜式原子力顯微鏡Redux。Redux原子力顯微鏡(AFM)除了具有方便攜帶,操作簡單,掃描速度快,可掃描大尺寸樣品,無需維護等優點,還可以迅速找到感興趣的測量位置,實現相關區域的快速高精度測量。適合各類納米表征應用場景,從科學研究、高等教育到工業用戶的樣品3D表面形貌快速成像分析等,革命性的創新技術的降低了傳統AFM的復雜操作,也的拓寬了傳統AFM的應用范圍!
適合各類納米表征應用場景
半導體工業
材料工業
納米技術
生命科技
涂料,聚合物和復合材料等
高等教育
......
產品特點
更小巧,更便攜
AFM微納機電芯片,使得Redux/nGauge原子力顯微鏡(AFM)系統僅有公文包大小,可隨身攜帶。
更簡單,更易用
只需點擊鼠標三次即可獲得樣品表面納米級形貌信息,無需配置減震平臺。
第一步:通過內置光學顯微鏡尋找掃描區域;
第二步:Redux/nGauge幫助掃描探針自動尋找樣品表面;
第三步:點擊掃描,獲取樣品表面形貌信息。
維護簡單,性價比高
類金剛石針尖保證AFM探針超長壽命,且無需繁瑣的更換針尖操作和其他后期維護工作。
Redux采用的壓電AFM探針技術以及耐用的探針針尖(左圖)。中圖為一根探針第215次掃描樣品的結果,右圖為第1164次掃描樣品的結果
設備參數:
Redux AFM
左:Redux原子力顯微鏡(AFM);右:Redux原子力顯微鏡實際使用場景
Redux微型原子力顯微鏡n5(噪聲基底優于0.5nm)
Redux微型原子力顯微鏡n7(噪聲基底優于0.15nm)
產品特點
快速:1分鐘內便可獲取樣品信息
易用:掃描只需點擊三次鼠標
簡單:全新升級的X, Y和Z定位系統
技術參數
AFM技術參數 |
最大掃描范圍(XY) | 20 μm x 20 μm |
最大掃描高度(Z) | 10 μm |
掃描速度 | 80 秒 (256 x 256 pixel, 20 μm x 20 μm) |
噪音基底 | <0.5nm 或 <0.15 nm |
XY掃描分辨率 | <0.5 nm |
樣品臺參數 |
樣品臺尺寸 | 105 mm x 95 mm x 20 mm |
可移動范圍 | 10 mm x 10 mm |
光學顯微鏡參數 |
物鏡 | 10x, 0.25 NA |
視場 | 2.25 mm × 1.25 mm |
分辨率 | 1920 x 1080 FHD Video output |
整體尺寸 |
尺寸 (長x 寬 x 高) | 23.2 cm × 22.0 cm × 24.6 cm |
重量 | 4 kg |
軟件需求 |
連接方式 | USB |
操作系統 | Windows 10, 11 |
電源 |
電壓 | 100-240 VAC ~ 50/60 Hz |
電流 | 12 VDC, 5 A |
nGauge AFM
成像類型:形貌圖,相位圖
XY 掃描區域:100 µm × 100 µm
XY 掃描分辨率:<0.5 nm
Z向掃描范圍:10 µm
快速掃描成像時間:16 秒
可表征樣品大尺寸:100 mm x 50 mm x 20 mm
可表征樣品大重量:1 kg
各表征手段對比
| Redux/nGauge AFM | 傳統 AFM | SEM |
大氣環境下運行 |
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自動尋找樣品表面 |
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| N/A |
設備安裝時間 | 5 分鐘 | 1-2 周 | 1-2 周 |
掃描樣品時間 | 2 分鐘 | 1 小時 | 30 分鐘 – 1 小時 |
隨測隨走 |
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培訓時間 | 1 小時 | 12+ 小時 | 12+ 小時 |
無需激光對準 |
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普通市電/USB供電 |
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更換探針難度 |
| | N/A |
3D表面形貌成像 |
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成像分辨率 |
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不導電樣品表征 |
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測試數據
微柱陣列三維成像
二氧化硅聚合物復合材料相掃描結果
半間距為200nm的光柵形貌表征
數據存儲單元納米結構三維形貌表征
丹麥Akasel公司檢測鋼鐵拋光樣品表面
美國Biotech公司表征皮膚樣本
美國Applied Nanotool公司微納光學器件品控
光電子域器件檢測
發表文章
1. Zhao, P., et al., Multiple antibiotics distribution in drinking water and their co-adsorption behaviors by different size fractions of natural particles. Science of The Total Environment, 2021. 775: p. 145846.
2. Guo, P., et al., Vanadium dioxide phase change thin films produced by thermal oxidation of metallic vanadium. Thin Solid Films, 2020. 707: p. 138117.
3. Connolly, L.G., et al., A tip-based metrology framework for real-time process feedback of roll-to-roll fabricated nanopatterned structures. Precision Engineering, 2019. 57: p. 137-148.
4. O'Neill, C., et al., Effect of tooth brushing on gloss retention and surface roughness of five bulk‐fill resin composites. Journal of Esthetic and Restorative Dentistry, 2018. 30(1): p. 59-69.
用戶單位
nGauge全球代表性用戶