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當前位置：首頁產品中心低溫物理設備磁電測量設備Microscopy顯微光學超導(dao)磁體系統

Microscopy顯微光學超導磁體系統

產品簡介

Janis Microscopy顯微(wei)光(guang)學超導磁(ci)體(ti)系(xi)統被設計用(yong)于與ST-500型高(gao)穩定性顯微(wei)光(guang)學低(di)溫(wen)恒溫(wen)器一(yi)起(qi)使用(yong)，實現在7 T磁(ci)場及3.5 K~420 K變(bian)溫(wen)環境中的(de)顯微(wei)光(guang)學測量(liang)。

產品型號：
更新時間：2023-04-18
廠商性質：生產廠家
訪問量：1781
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Janis Microscopy顯微光學超導磁體系統被設計用于與ST-500型高穩定性顯微光學低溫恒溫器一起使用，實現在7 T磁場及3.5 K~420 K變溫環境中的顯微光學測量。該系統配備用于樣品掃描和聚焦的X-Y-Z平移臺，可在低溫強磁場下的進行顯微拉曼、熒光、磁光克爾等多種光譜測試。



主要特征(zheng)


?  7T垂直孔(kong)徑超導磁體(ti)

?  室溫孔內徑42毫米

?  超低振動ST-500顯微鏡低溫恒溫器(qi)

?  溫度范圍：3.5~325K（420K可選(xuan)）

?  高(gao)精度XYZ三軸平臺

?  可測(ce)試直徑為16mm的樣品

?  低溫強磁場顯微拉曼、熒光、MOKE


標準(zhun)Microscopy主要參數


樣品環境

運行溫度

磁場大小

光學通道

真(zhen)空(kong)/超高真(zhen)空(kong)

3.5 K ~ 325 K
 (420 K 可選)

0 ~ 7 T

?





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