安裝篇

2020年春節前夕，通過工程師的安裝調試和細致的講解培訓，第二代電導率-塞貝克系數掃描探針顯微鏡（PSM II）在杭州創新研究院順安裝并完成驗收。該系統是國內第二套PSM II，也是國內第六套PSM。PSM II將用于塊體和薄膜熱電材料的塞貝克系數、均勻度檢測與新型熱電材料的研究。這套設備的投入使用將幫助杭州創新研究院在熱電材料域取得更快的發展。

德國工程師Dieter Platzek（中）與用戶老師合影

設備篇

電導率-塞貝克系數掃描探針顯微鏡是由德國PANCO公司與德國宇航中心聯合研發的款可以精確測量熱電材料Seebeck系數二維分布的設備。自推出以來，該設備獲得多個實驗室的*，已經成為快速精準檢測樣品性能的重要手段。后經研發人員的進步升，全新推出的第二代電導率-塞貝克系數掃描探針顯微鏡-PSM II具有更高的位置分辨率和測量精度。

產品點：

• 可以精確測量Seebeck系數二維分布的商業化設備。

• 精確的力學傳感器可以確保探針與樣品良好的接觸。

• 采用鎖相技術，精度超過大型測試設備。

• 快速測量、方便使用，可測塊體和薄膜。

主要技術參數：

位置定位精度：單向 0.05μm；雙向 1μm

大掃描區域：100 mm × 100 mm

測量區域精度：5μm (與該區域的熱傳導有關)

信號測量精度：100 nV （采用高精度數字電壓表）

測量結果重復性：重復性誤差于3%

塞貝克系數測量誤差：< 3% (半導體)；< 5% (金屬)

電導率測量誤差：< 4%

測量速度：測量個點的時間4~20秒

應用域：

• 熱電材料、超導材料、燃料電池、電子陶瓷以及半導體材料的均勻度測量

• 測量功能梯度材料的梯度

• 觀察材料退化效應

• 監測 NTC/PTC 材料的電阻漂移

• 固體電介質材料中的傳導損耗

• 陰材料的電導率損耗

• 巨磁阻材料峰值溫度的降低，電阻率的變化

• 樣品的質量監控

電導率-塞貝克系數掃描探針顯微鏡-PSM II