報告簡介：

如何在不破壞樣品的(de)(de)前提(ti)下，對大尺寸石墨烯等二(er)維材料的(de)(de)電(dian)學性(xing)質進(jin)行(xing)準確快速的(de)(de)測(ce)量(liang)，是(shi)在提(ti)升樣品質量(liang)并推進(jin)其實際應用(yong)中，亟待解(jie)決的(de)(de)重要問題。常規的(de)(de)四探針(zhen)電(dian)阻測(ce)量(liang)法、原子力顯微鏡、共聚焦(jiao)拉曼等表(biao)征(zheng)方法存在測(ce)量(liang)尺寸小、效率低、對樣品有損(sun)傷等缺點而無法勝任(ren)。

在本報告中，我們將結合來自《nature》《science》等期刊的新文獻，介紹種技術，它采用非接觸式方式，快速準確且高效的實現大尺寸石墨烯等二維材料的無損測量，得到電導率、電阻率、載流子和均勻性等分布信息。此方法同樣適用于其他二維材料、半導體薄膜、光伏薄膜的電學性質測量。該方法已經成功應用在西班牙CIC nanoGUNE研究中心等著名高校和企業，并且其對于石墨及其他二維材料電學測量方法已經成為IEC（國際電工委員會，是性的標準化門機構） TS 62607-6-10:2021(E)的標準規范^[1]

 1. //webstore.iec.ch/publication/28888

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報告時間：

2021年12月02日 14:00

主講人：

弓志宏，物理(li)學碩士，2016年畢業于北(bei)京(jing)理(li)工大學。主要(yao)研究(jiu)方向(xiang)為激(ji)光光譜學與(yu)技(ji)術、光與(yu)低維半導(dao)體(ti)納米結構相互(hu)作用以及時間分辨發光動力學等(deng)。現擔任Quantum Design中(zhong)國子(zi)公司產品經理(li)，多(duo)年來(lai)直(zhi)負責低維材料光學，電學物性測量(liang)設備的應用開發，技(ji)術支持和市場(chang)拓展(zhan)。

技術線上論壇：

//qd-china.com/zh/n/2004111065734

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