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致真精密儀器（青島）有限公司生產的多功能高分辨率磁光克爾顯微成像系統，以自主設計的光路結構及奧林巴斯、索萊博光電元件為基礎制造，適用于磁性材料/ 自旋電子器件的磁疇成像和動力學研究。

聚合物薄膜厚度方向熱電性能評價系統-ZEM-d主要測量聚合物薄膜厚度方向上的塞貝克系數和電阻率，可以測量的樣品薄為10μm。

日本Advance Riko公司推出的納米薄膜熱導率測試系統-TCN-2ω是使用2ω方法測量納米薄膜厚度方向熱導率的商用系統。與其他方法相比，樣品制備和測量為簡單。

石墨烯/二維材料電學性質非接觸快速測量系統-ONYX是款針對石墨烯、半導體薄膜和其他二維材料大面積太赫茲無損表征的測量設備。

激光閃光法熱常數測量系統-TC-1200RH系統采用符合JIS/ISO標準的激光閃光法測定材料的三個重要熱物理常數：熱導率（導熱系數）、熱擴散系數及比熱容。

低溫雙軸旋轉模塊-atto3DR通過水平固定軸的旋轉，控制樣品表面與外界磁場的傾角（+/- 90°）；而沿面內固定軸的旋轉提供了另外+/- 90°的運動，從而實現樣品與磁場形成任意相對方向。