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塞貝克系數/電阻測量系統

產品簡介

塞貝克系數/電阻測量系統可實現對金屬或半導體材料的熱電性能的評估。作為ZEM的點,塞貝克系數和電阻都可以用種儀器來測量。

產品型號:ZEM
更新時間:2023-04-18
廠商性質:生產廠家
訪問量:3140
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 塞貝克系數/電阻測量系統ZEM

 

               ——定量測量熱電材料的塞貝克系數和電阻                             

 

產品介紹:

塞貝克系數/電阻測量系統可實現對金屬或半導體材料的熱電性能的評估。作為ZEM的點,塞貝克系數和電阻都可以用種儀器來測量。

 

產品點:

♦  擁有溫度控制的紅外金面加熱爐和控制溫差的微型加熱器;

♦  測量是由計算機控制的,并且能夠在定的溫度下執行測量,并允許自動測量消除背底電動勢;

♦  歐姆接觸自動檢測功能(V-I圖);

♦  可以用適配器來測量薄膜;

♦  可定制高阻型。 

 

產品結構:

 

樣品腔部分:

 

工作原理圖:

應用方向:

對于半導體,陶瓷材料,金屬材料等多種材料的熱電性能分析。

 

可選功能:

1. 薄膜測量選件

 

2.低溫選件(溫度范圍-100℃到200℃)

3.高阻選件(可高達10MΩ)

 

參數配置:

型號 ZEM-3M8ZEM-3M10
溫度范圍50-800℃50-1000℃
樣品大小方形2-4mm*6-22mmL 或者 圓形φ2-4mm*6-22mmL
加熱方式紅外加熱
氣氛高純氦氣(99.999%) 
樣品溫差 MAX.50℃ 
測量方式電腦全自動測量

附:

熱電材料/器件測試設備

20200228-63784726.png

測試數據

燒結P型Si80Ge20塞貝克系數及電阻率測量結果

 

發表文章

1. Y. Wang et al. / Adv. Energy Mater. 2020, 2001945 

2. Z. Ge et al. / Chemical Engineering Journal 2020, 126407 

3. J. He et al. / Energy Environ. Sci., 2020,13, 2106-2114 

4. Y. Takagiwa et al. / ACS Appl. Mater. Interfaces 2020, 12, 43, 48804–48810 

5. L. Zhao et al. / Adv. Energy Mater. 2019, 9, 1901334.

 

用戶單位

清華大學

中國科學技術大學

上海交通大學

復旦大學

南方科技大學

武漢理工大學

中國科學院上海硅酸鹽研究所

中國科學院大連化學物理研究所

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